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濱松平板探測(cè)器在牙科CBCT成像中的應(yīng)用

        CBCT即錐形束投照計(jì)算機(jī)重組斷層影像設(shè)備,英文全稱(chēng)為Cone beam CT,也就是錐形束CT。CBCT的原理是以較低的X射線量(通常球管電流在10毫安左右)圍繞投照體做環(huán)形DR(數(shù)字式投照),然后將圍繞投照體多次(180次-360次,依產(chǎn)品不同而異)數(shù)字投照后“交集”中所獲得的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中“重組,reconstruction”后進(jìn)而獲得三維圖像。

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        理解牙科CBCT成像設(shè)備最基礎(chǔ)的一步,是理解X射線成像。本文將主要介紹牙科X射線成像的基礎(chǔ)知識(shí),以及濱松平板探測(cè)器是如何應(yīng)用在牙科CBCT成像中的。


一,什么是X射線

        光(輻射),在我們的生活、自然以及宇宙中幾乎無(wú)處不在。可見(jiàn)的只有非常小的一部分,大部分都是你我肉眼無(wú)法觀測(cè)到的,X射線就是其中一種。

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        X射線屬于高能射線,光子能量在124eV到幾百keV之間,屬于電離輻射,對(duì)人體有害,如果人體吸收了過(guò)量的X射線則會(huì)造成實(shí)質(zhì)損傷。宇宙中存在著大量的X射線,但地球的大氣層基本都將其隔離在外了。


        X射線又叫倫琴射線,由德國(guó)物理學(xué)家威廉·康拉德·倫琴于1895年在實(shí)驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)并命名,倫琴因此成為了獲得諾貝爾物理學(xué)獎(jiǎng)的第一人。而X射線也被稱(chēng)為19世紀(jì)末20世紀(jì)初物理學(xué)的三大發(fā)現(xiàn)之一,標(biāo)志著現(xiàn)代物理學(xué)的誕生。


        倫琴在一次的實(shí)驗(yàn)中,請(qǐng)他夫人將手放在黑紙包嚴(yán)的照相底片上,用X射線對(duì)準(zhǔn)照射了15分鐘,顯影后,得到了人類(lèi)第一張人體X射線攝影。這張歷史性的照片也表明了,人類(lèi)可以借助X射線隔著皮肉去透視骨骼。

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        X射線穿透力極強(qiáng),由于人體不同的組織對(duì)X射線的吸收程度不同,均勻的X射線快速穿透人體組織后,其不均勻分布其實(shí)就是人體組織的投影。通過(guò)不斷的技術(shù)發(fā)展,如今X射線已廣泛地用于醫(yī)療影像中,當(dāng)然也包括我們今天談到的牙科CBCT影像。


二,牙科CBCT影像中的X射線

        目前在牙科應(yīng)用中,都是用X射線真空管來(lái)產(chǎn)生X射線。


        X射線管是工作在高電壓下的真空二極管。包含有兩個(gè)電極:一個(gè)是用于發(fā)射電子的燈絲,作為陰極(K);另一個(gè)是用于接受電子轟擊的靶材,作為陽(yáng)極(A)。兩極均被密封在高真空的玻璃或陶瓷外殼內(nèi)。

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        在牙科X射線影像設(shè)備的參數(shù)中,"管電流"、"管電壓"是經(jīng)常能看見(jiàn)的。


        X射線管供電部分至少包含有一個(gè)使燈絲(鎢)加熱的低壓電源(Uh)和一個(gè)給兩極施加高電壓的高壓發(fā)生器(Ua)。首先,當(dāng)足夠的電流通過(guò)鎢絲時(shí)會(huì)產(chǎn)生電子云,同時(shí)在陽(yáng)極和陰極間施加足夠的管電壓(千伏等級(jí)),使得電子云被拉往陽(yáng)極。此時(shí)電子以高能高速的狀態(tài)撞擊鎢靶(A),高速電子到達(dá)靶面,運(yùn)動(dòng)突然受到阻止,其動(dòng)能的一小部分便轉(zhuǎn)化為輻射能,以X射線的形式放出。


        改變燈絲電流(管電流)的大小可以改變燈絲的溫度和電子的發(fā)射量,從而改變管電流和X射線強(qiáng)度。改變X射線管的激發(fā)電位,或選用不同的靶材可以改變?nèi)肷鋁射線的能量。


        管電壓(keV)越高,X射線穿透物體的能力越強(qiáng)。管電壓的設(shè)置,不能太高,也不能太低。管電壓過(guò)高,X射線大部分會(huì)直接穿過(guò)被攝物體,探測(cè)器接收到信號(hào)就與被攝物體無(wú)關(guān)了;而管電壓過(guò)低,則X射線大部分被物體吸收,探測(cè)器則接收不到與被攝物體有關(guān)的信息。


        而管電流(mA)越大,就意味著X射線的流量越大,探測(cè)器接收到的信號(hào)就會(huì)越強(qiáng)。從成像角度來(lái)說(shuō),管電流越大越好,但是管電流越大,病患受到的輻射劑量也越大,所以在滿足成像的基礎(chǔ)上,管電流越小越好。


        由于受高能電子轟擊,X射線管工作時(shí)溫度很高,需要對(duì)陽(yáng)極靶材進(jìn)行強(qiáng)制冷卻。雖然X射線管產(chǎn)生X射線的能量效率十分低下,但是在目前,其依然是最實(shí)用的X射線發(fā)生器件,已廣泛應(yīng)用于X射線類(lèi)儀器中。目前,醫(yī)療用途主要有診斷用X射線管和治療用X射線管。


三,濱松平板探測(cè)器在牙科CBCT成像中的應(yīng)用

        在成像中,除了光源,另一個(gè)必不可少的元件就是光電探測(cè)器了。而在牙科CBCT中所用到的,想必大家也都了解,就X射線平板探測(cè)器。


        對(duì)于牙科CBCT而言,平板探測(cè)器是影響其影像質(zhì)量的核心因素。同時(shí),從成本的角度來(lái)看,通常X射線平板探測(cè)器占牙科CBCT整機(jī)生產(chǎn)成本的1/2-1/3,這也充分體現(xiàn)了其在設(shè)備中的重要性。因此,在選購(gòu)牙科CBCT機(jī)時(shí),平板探測(cè)器的品牌和技術(shù)參數(shù)是關(guān)注的要點(diǎn)。

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        對(duì)于X射線成像,目前大多采用間接成像,如下圖所示(圖為濱松牙科平板探測(cè)器),我們可以看到平板探測(cè)器內(nèi)部主要包含:閃爍體(灰) ,探測(cè)器(藍(lán)),讀出電路(黃)。

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        簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),閃爍體負(fù)責(zé)把X射線轉(zhuǎn)化為可見(jiàn)光(X射線難以直接被探測(cè)器所探測(cè)),探測(cè)器負(fù)責(zé)讀取可見(jiàn)光信息并轉(zhuǎn)換為電信號(hào),最后由讀出電路將電信號(hào)傳遞到PC里面。這里,我們重點(diǎn)來(lái)說(shuō)一說(shuō)其中最關(guān)鍵的、也是直接決定平板探測(cè)器性能的兩部分:閃爍體和探測(cè)器。


1,閃爍體

        閃爍體就是一個(gè)光的轉(zhuǎn)換器,可以把X光轉(zhuǎn)化為容易探測(cè)的可見(jiàn)光。


        閃爍體的類(lèi)型有很多種,目前在牙科X射線中主要使用的是CsI(碘化銫閃爍體)。碘化銫閃爍體的發(fā)光光譜與CMOS圖像傳感器的吸收光譜近乎完美的重合,兩條曲線的峰值都落在500-600nm的光譜范圍內(nèi)。

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        而目前,在碘化銫閃爍體中分辨率最高的就是針狀碘化銫。針狀結(jié)構(gòu)類(lèi)似于光導(dǎo),在輸出可見(jiàn)光的時(shí)候,發(fā)光更加集中,亮度更強(qiáng),分辨率更高。

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        閃爍體需要耦合在探測(cè)器上來(lái)發(fā)揮效用,其耦合的方式主要分為兩種:1,基板壓制(耦合)型;2,直接沉積型


        基板壓制(耦合)型閃爍體,是直接在一個(gè)基板上進(jìn)行閃爍體生長(zhǎng)(substrate),然后基板在上,閃爍體朝下扣在平板探測(cè)器上。


        壓制工藝的針狀碘化銫與平板探測(cè)器之間會(huì)有薄薄的縫隙,里面會(huì)有殘留的空氣。另外,這種耦合工藝的縫隙里會(huì)有膠水層。因此,基板壓制(耦合)型閃爍體會(huì)不可避免出現(xiàn)基板對(duì)X射線的攔截吸收,以及空氣層或膠水層對(duì)轉(zhuǎn)化光的折射和散射的問(wèn)題。這就會(huì)影響到閃爍體的發(fā)光強(qiáng)度和分辨率。不過(guò),該種閃爍體生產(chǎn)難度比較小,成本也相對(duì)較低。

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        直接沉積型針狀碘化銫閃爍體,不需要粘合劑,也不需要額外的基板,通過(guò)專(zhuān)業(yè)設(shè)備直接在平板探測(cè)器(CMOS和TFT平板)上進(jìn)行蒸鍍,將針狀碘化銫閃爍體生長(zhǎng)在平板探測(cè)器表面。

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        這種耦合方式,由于沒(méi)有額外的基板和粘合劑或空氣層,所以射入的X射線和發(fā)出的可見(jiàn)光損失小,發(fā)光強(qiáng)度高,發(fā)光集中,分辨率高,可以在低劑量X光照射下產(chǎn)生很好的圖像質(zhì)量。直接沉積型針狀碘化銫閃爍體,是目前X射線平板探測(cè)器所用閃爍體工藝的最高標(biāo)準(zhǔn)。


        直接沉積型耦合方式的缺點(diǎn)是技術(shù)難度高,成本高。目前濱松公司的平板探測(cè)器都是采用直接沉積型耦合方式,濱松公司完全掌握了直接沉積型針狀碘化銫的生產(chǎn)工藝,可生產(chǎn)出品質(zhì)極高的直接沉積型針狀碘化銫閃爍體。


2,探測(cè)器

        探測(cè)器位于閃爍體之下,用于接收閃爍體發(fā)出的可見(jiàn)光,把光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào),是光電轉(zhuǎn)化的關(guān)鍵一步。


        目前市場(chǎng)上有兩種用于牙科CBCT成像的探測(cè)器:CMOS平板探測(cè)器和TFT平板探測(cè)器(也稱(chēng)非晶硅平板探測(cè)器)。


        目前對(duì)這兩種探測(cè)器的優(yōu)劣可以說(shuō)是眾說(shuō)紛紜。作為同時(shí)提供兩種探測(cè)器的濱松,在這里就為大家分享一下這兩者的實(shí)際對(duì)比情況:

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        表中可以看到,TFT平板探測(cè)器的優(yōu)勢(shì)是尺寸和視野,而CMOS平板探測(cè)器的優(yōu)勢(shì)是靈敏度,分辨率和讀出速度。


        在不需要拼接的情況下,CMOS平板在性能上具有優(yōu)勢(shì)。但在需要"大尺寸"的應(yīng)用下,拼接的CMOS平板在拼接處都會(huì)存在間隙和失效像素線,進(jìn)而導(dǎo)致部分的圖像會(huì)有缺失,需要后期通過(guò)軟件進(jìn)行修正。而TFT平板則不存在這個(gè)問(wèn)題。


        目前,濱松的中視野平板均是CMOS平板,中大視野和大視野平板全部是TFT平板,這樣可以充分發(fā)揮各個(gè)工藝的優(yōu)點(diǎn),并滿足不同場(chǎng)景的應(yīng)用需求。


        接下來(lái),我們?cè)賮?lái)看看探測(cè)器中另一個(gè)必須了解的關(guān)鍵點(diǎn)---像素結(jié)構(gòu)。目前,平板探測(cè)器的像素結(jié)構(gòu)一般分為兩種:被動(dòng)型像素PPS:像素的全部面積用來(lái)探測(cè)光信號(hào),像素內(nèi)不包含放大器;主動(dòng)型像素APS:每個(gè)像素內(nèi)都包含一個(gè)光電探測(cè)器和放大器。


        就目前市場(chǎng)上的平板探測(cè)器產(chǎn)品而言,TFT平板探測(cè)器使用的都是被動(dòng)型像素PPS,而CMOS平板探測(cè)器則存在兩種像素結(jié)構(gòu)都有使用的情況。

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        目前牙科CBCT成像需要的X射線劑量在20uSv~ 50uSv之間,在這個(gè)劑量下,APS型CMOS平板探測(cè)器,PPS型CMOS平板探測(cè)器和TFT平板探測(cè)器的成像質(zhì)量幾乎沒(méi)有差異。


四,總結(jié)

        TFT平板探測(cè)器和CMOS平板探測(cè)器各有所長(zhǎng)。TFT工藝多用于制造大面積平板探測(cè)器,多用于高端坐式牙科CBCT機(jī)上;而CMOS工藝多用于制造中視野平板探測(cè)器,多用于牙科3-in-1機(jī)型(但目前也有部分高端的3-in-1機(jī)型,使用了TFT中大視野平板探測(cè)器)。


        直接沉積型針狀碘化銫的TFT和CMOS平板探測(cè)器,是牙科平板探測(cè)器業(yè)界最高品質(zhì)產(chǎn)品。


        拼接的CMOS平板探測(cè)器都會(huì)有明顯的壞線,很大程度上依賴算法補(bǔ)償。


        APS型CMOS探測(cè)器中每個(gè)像素都包含放大器,未被閃爍體完全吸收的X射線容易導(dǎo)致放大器損壞,引起像素失效,其抗輻射能力不如PPS型CMOS平板探測(cè)器。

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        濱松作為一家擁有60余年的光電企業(yè),在平板探測(cè)器的研發(fā)和生產(chǎn)上,也有24年的歷史了。濱松平板探測(cè)器通過(guò)掌握核心技術(shù)——探測(cè)器設(shè)計(jì),閃爍體生產(chǎn),電子設(shè)計(jì),產(chǎn)品集成,不斷地為世界上著名的牙科影像企業(yè)提供著優(yōu)秀的產(chǎn)品。我們也希望通過(guò)不斷精進(jìn)自身的技術(shù),為牙科影像的發(fā)展提供更好地可能。

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        除了牙科應(yīng)用外,濱松平板探測(cè)器還廣泛用于工業(yè)無(wú)損檢測(cè)中,圖為手機(jī)內(nèi)部結(jié)構(gòu)X射線圖。(使用濱松平板探測(cè)器拍攝)